原子力顯微鏡測試(AFM)

原子力顯微鏡測試(AFM)

▎   適用領(lǐng)域

     原子力顯微鏡，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。廣泛應(yīng)用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學科的研究實驗等領(lǐng)域中。

▎   面向?qū)W科

    材料、物理、化學

原子力顯微鏡測試(AFM)

▎   樣品要求

1. 薄膜樣品：直徑小于12 mm，高度小于3 mm，要求樣品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超過范圍需收取相應(yīng)加工費

2. 液體樣品：請配好膠體溶液，保證樣品均勻分散，要求無沉積，溶液澄清透明。樣品如需超聲或稀釋請事先說明，稀釋請?zhí)峁┫鄳?yīng)的溶劑（去離子水除外），并說明稀釋倍數(shù)。液體樣品一般涂到新鮮解離的云母片上，如樣品在云母片上吸附不好，請客戶自行將樣品涂到其他底材上（如硅片）進行測樣；

3. 固體粉末樣品：由于AFM是盲掃，對樣品的分散性要求非常高，因此最好是以液體的形式進行測試。固體粉末樣品一般只適合溶解性或分散性較好的樣品，通常提供不超過30 min的超聲預(yù)處理，溶劑由客戶提供（去離子水除外），并由客戶提供詳細的制樣條件

4. 生物樣品：蛋白、細胞及DNA等樣品，請?zhí)峁┰敿毜闹茦舆^程，由于溶液中含有鹽，因此請調(diào)好濃度，減少鹽對測試結(jié)果的影響

5. 由于樣品分布的不均勻性，請客戶提供樣品的SEM或TEM圖，或者提供參考文獻中AFM的效果圖，以提高結(jié)果的準確性

備注：請客戶提供樣品的成分信息，如樣品具有腐蝕性、傳染性等危害，請在寄樣前確認能否測量，并提供相應(yīng)的防護措施

▎   測試儀器

▎   測試優(yōu)勢

1)    低漂移和低噪音水平；

2)    配置有專有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術(shù)，可以簡易快速穩(wěn)定成像；

3)    測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；

4)    溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)高分辨率。；

5)    全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度；

6)    測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；